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FS-Pro 半導體參數測試系統
主要特點：
在一個系統中實現了電流電壓(IV)測試、電容電壓(CV)測試、脈沖式IV測試、任意線性波形發生與測量、高速波形發生與釆集以及低頻噪聲測試能力，幾乎所有半導體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測試系統中完成。
全面而強大的參數測試分析能力極大地加速了半導體器件與工藝的研發和評估進程，并可與概倫9812系列噪聲測試系統無縫集成。
釆用工業通用的PXI模塊化硬件架構，系統配置靈活，擴展性強。
內置專業測試軟件LabExpress提供豐富的測試預設和強大的數據處理功能。
LabExpress軟件同時支持自動化量測和并行量測，可進一步提升測試效率。
廣泛應用于各種半導體器件、LED材料、二維材料器件、金屬材料、新型先進材料與器件測試、器件可靠性等研究領域。
